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論文

Grain ejection from the surface of polycrystalline molybdenum irradiated by intense H$$^{+}$$ and H$$_{2}$$$$^{+}$$ ion beams

中村 幸治; 柴田 猛順; 田中 三雄

Journal of Nuclear Materials, 68(2), p.253 - 256, 1977/02

https://doi.org/10.1016/0022-3115(77)90245-8
 被引用回数：13

強い水素イオンビームを多結晶モリブデンに照射することにより、試料温度が200$$^{circ}$$Cちかくにおいて、新しいタイプの表面損傷「結晶粒放出」を発見した。多結晶モリブデンを25keV30mA/cm$$^{2}$$の強い水素イオンビームで照射した。試料温度は常温から500$$^{circ}$$Cまで変化させた。1c/cm$$^{2}$$から20c/cm$$^{2}$$の照射量にわたりイオン衝撃したのち、表面損傷のようすを走査型電子顕微鏡で観察した。表面損傷の様子は試料の温度に強く依存する。即ち200$$^{circ}$$C近くでは結晶粒放出、常温近くでは直径1$$mu$$m以内の多数のブリスタがみられた。500$$^{circ}$$Cの温度では結晶粒放出もブリスタも観測されない。結晶粒放出によるくぼみの大きさは、一結晶粒以上でありこれは多結晶モリブデン表面の第一結晶粒層にある結晶粒ないしはいくつかの結晶粒のかたまりの跡であると考えられる。さらに結晶粒放出の温度依存性をモリブデン中の水素拡散と考慮して考察した結果この温度依存性を良く説明することができた。

口頭

タングステン材料の負水素イオンビームによる多重照射試験,3; 多重照射による材料損傷の観察

徳永 和俊*; 野見山 有希乃*; 福田 誠*; 江里 幸一郎*; 平野 耕一郎

no journal, , 

本研究では、負水素イオンビームによる多重照射(3MeV,5Hz)されたタングステンの損傷観察を行い、繰り返し短パルス熱負荷の影響を調べた。表面が圧延方向に垂直の試料では、照射領域に格子状のき裂が発生する。一方、表面が圧延方向に平行な試料では、楕円状のき裂が一面に発生し、粒界配向によりき裂形成の様式が異なることがわかった。また、き裂に囲まれた中心部は、繰り返し短パルス熱負荷時の塑性変形により発生したと考えられる凹凸部が観察される。さらに、熱負荷が大きい場合、その凸部が突起状に溶融凝固すると共に、周辺には深いき裂が形成され、深いき裂の間に突起が林立する特異な現象が見られる。

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